
เครื่อง XRD วิเคราะห์โครงสร้างผลึกและความเค้นตกค้าง — จาก GNR
X-ray Diffraction (XRD) วิเคราะห์โครงสร้างผลึกและเฟสของวัสดุโดยไม่ทำลายตัวอย่าง ทั้งแบบผงและของแข็ง รายงานผลเป็นมุมการเลี้ยวเบน 2θ ตามกฎของแบรกก์ (nλ = 2d sinθ) ทูธีต้าเสนอเครื่อง XRD และเครื่องวัดความเค้นตกค้างจาก GNR สำหรับงานวิจัยวัสดุและอุตสาหกรรมโลหะ — เลือกรุ่นที่สนใจเพื่อดูสเปกและรายละเอียด
รุ่นเครื่อง XRD จาก GNR

APD 2000 PRO
เครื่องวิเคราะห์โครงสร้างผลึกด้วยผงตัวอย่าง (Powder XRD) ระบบ Theta/Theta
ดูรายละเอียด →
Explorer
เครื่องวิเคราะห์ผลึกแบบอเนกประสงค์ความละเอียดสูง (Multi-Purpose & High Resolution XRD)
ดูรายละเอียด →
SpiderX-Edge
เครื่อง X-ray diffractometer แบบพกพา Theta/Theta สำหรับวัด residual stress และออสเทไนต์คงเหลือ ทั้งในห้องปฏิบัติการและหน้างาน
ดูรายละเอียด →
StressX
เครื่องวิเคราะห์ความเค้นตกค้าง (residual stress) แบบแขนหุ่นยนต์ เคลื่อนหัววัดเข้าหาชิ้นงานได้โดยตรง
ดูรายละเอียด →
AreX D
เครื่องวิเคราะห์ออสเทไนต์คงเหลือแบบตั้งโต๊ะ (Desktop Retained Austenite Analyzer)
ดูรายละเอียด →หลักการทำงาน
ศาสตร์เบื้องหลังเครื่อง XRD
X-ray Diffraction เป็นเทคนิควิเคราะห์แบบไม่ทำลายตัวอย่าง ที่ระบุและหาปริมาณเฟสผลึกในวัสดุของแข็งและผง อาศัยกฎของแบรกก์ ให้ผลระบุเฟสที่ชัดเจน วิเคราะห์เชิงปริมาณ และบอกลักษณะโครงสร้างผลึก ตั้งแต่งานควบคุมคุณภาพประจำวันไปจนถึงงานวิจัยวัสดุขั้นสูง
- ไม่ทำลายตัวอย่าง — ตัวอย่างยังอยู่ครบหลังวัด นำกลับไปใช้ต่อได้
- เชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ — ระบุว่ามีเฟสใดบ้าง และคำนวณสัดส่วนน้ำหนักของแต่ละเฟสด้วยวิธี Rietveld refinement
- ฐานข้อมูล ICDD — จับคู่รูปแบบการเลี้ยวเบนกับฐานข้อมูลอ้างอิง ICDD เพื่อระบุเฟส
- ทั้งผงและของแข็ง — วิเคราะห์ตัวอย่างได้ทั้งแบบผง แบบอัดเม็ด และแบบชิ้นงานที่ตัดมา
การประยุกต์ใช้
XRD ช่วยคุณทำอะไรได้บ้าง

ระบุเฟสของวัสดุ
ระบุและหาปริมาณเฟสผลึกในตัวอย่างทางธรณีวิทยา อุตสาหกรรม และเภสัชกรรม โดยจับคู่กับฐานข้อมูล ICDD

โครงสร้างผลึก
หาพารามิเตอร์ของหน่วยเซลล์และข้อมูลโครงสร้างของสารประกอบใหม่ แร่ และวัสดุสังเคราะห์

ความเค้นตกค้าง
วัดความเค้นตกค้างและความเค้นที่ใช้งานในโลหะ เซรามิก และวัสดุคอมโพสิต ด้วยวิธี sin²ψ หรือ cos α

การวิเคราะห์เท็กซ์เจอร์
ระบุทิศทางการจัดเรียงตัวของผลึก (texture/ODF) ในโลหะรีด ฟิล์มบาง และตัวอย่างทางธรณีวิทยา

ควบคุมคุณภาพยา
ติดตามปริมาณโพลีมอร์ฟ ความเป็นผลึก และสัดส่วนอสัณฐานในสารออกฤทธิ์และผลิตภัณฑ์ยา

เหมืองแร่และธรณีวิทยา
หาปริมาณแร่ในแหล่งแร่ ปริมาณดินเหนียว และเฟสที่ไม่ใช่แร่เป้าหมาย ในแก่นเจาะและตัวอย่างกระบวนการ เพื่อควบคุมเกรดและปรับปรุงกระบวนการ
เกี่ยวกับผู้ผลิต
G.N.R. S.r.l.
G.N.R. S.r.l. (GNR Analytical Instruments Group) ก่อตั้งที่เมืองมิลาน ประเทศอิตาลี ในปี 1984 ผลิตเครื่องมือวิเคราะห์ขั้นสูง ได้แก่ เครื่อง XRD เครื่อง XRF/TXRF และเครื่อง Optical Emission Spectrometer จากฐานที่ Agrate Conturbia ใกล้เมืองโนวารา โดยมีประสบการณ์มากกว่า 40 ปี